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PGI Freeform

用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪

泰勒•霍普森 的 PGI Freeform（相位光栅干涉）是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪，用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。

  • 产品概述 +


    灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统
    全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统，适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。
    能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析：

    • 球面

    • 非球面

    • 衍射面

    • 自由曲面

    PGI Freeform可与最新的用于定义自由曲面的方程式相兼容，测量多种多样的自由曲面, 比如：

    • 双环曲面

    • 双圆锥面

    • 变形非球面

    • 椭球面

    • NURBS曲面

    • Zernike曲面

    • 点云曲面

    测量的整体性与重复能力

    泰勒•霍普森PGI Freeform数十年的测量经验积累、超精密加工专业知识与有限元分析(FEA)优化设计相结合,可加工出低噪音、近乎完美的机械轴。
    全新的软件操作界面，设置简单，可进行自由曲面的高精度分析。功能强大的PGI Freeform使其称为光学零件分析测量的首选。

  • 产品手册 +

    No brochure found.

  • 应用报告 +

    No application report found